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| Semester | Herbstsemester 2009 |
| Dozierende |
Thilo Glatzel (thilo.glatzel@unibas.ch)
Enrico Gnecco (enrico.gnecco@unibas.ch) Thomas Jung (thomas.jung@unibas.ch, BeurteilerIn) Ernst Meyer (ernst.meyer@unibas.ch) Meike Stöhr (meike.stoehr@unibas.ch) |
| Inhalt | Analysemethoden wie LEED, Auger, XPS, UPS, Massenspektroskopie, EELS, FIM, STM, AFM sowie die wichtigsten Präparationsmethoden unter Ultrahochvakuumbedingugen werden behandelt. |
| Lernziele | Die wichtigsten Methoden der Oberflächenphysik werden behandelt. |
| Unterrichtssprache | Deutsch |
| Einsatz digitaler Medien | kein spezifischer Einsatz |
| HörerInnen willkommen |
| Intervall | Wochentag | Zeit | Raum |
|---|
Keine Einzeltermine verfügbar, bitte informieren Sie sich direkt bei den Dozierenden.
| Module |
Modul Vertiefungsfach Physik (Master Physik) Modul Vertiefungsfach Physik (Master Nanowissenschaften) |
| Leistungsüberprüfung | Lehrveranst.-begleitend |
| An-/Abmeldung zur Leistungsüberprüfung | Anmelden: Belegen; Abmelden: Dozierende |
| Wiederholungsprüfung | keine Wiederholungsprüfung |
| Skala | 1-6 0,5 |
| Wiederholtes Belegen | beliebig wiederholbar |
| Zuständige Fakultät | Philosophisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, studiendekanat-philnat@unibas.ch |
| Anbietende Organisationseinheit | Departement Physik |