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Semester | Herbstsemester 2009 |
Dozierende |
Thilo Glatzel (thilo.glatzel@unibas.ch)
Enrico Gnecco (enrico.gnecco@unibas.ch) Thomas Jung (thomas.jung@unibas.ch, BeurteilerIn) Ernst Meyer (ernst.meyer@unibas.ch) Meike Stöhr (meike.stoehr@unibas.ch) |
Inhalt | Analysemethoden wie LEED, Auger, XPS, UPS, Massenspektroskopie, EELS, FIM, STM, AFM sowie die wichtigsten Präparationsmethoden unter Ultrahochvakuumbedingugen werden behandelt. |
Lernziele | Die wichtigsten Methoden der Oberflächenphysik werden behandelt. |
Unterrichtssprache | Deutsch |
Einsatz digitaler Medien | kein spezifischer Einsatz |
HörerInnen willkommen |
Intervall | Wochentag | Zeit | Raum |
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Keine Einzeltermine verfügbar, bitte informieren Sie sich direkt bei den Dozierenden.
Module |
Modul Vertiefungsfach Physik (Master Physik) Modul Vertiefungsfach Physik (Master Nanowissenschaften) |
Prüfung | Lehrveranst.-begleitend |
An-/Abmeldung zur Prüfung | Anmelden: Belegen; Abmelden: Dozierende |
Wiederholungsprüfung | keine Wiederholungsprüfung |
Skala | 1-6 0,5 |
Belegen bei Nichtbestehen | beliebig wiederholbar |
Zuständige Fakultät | Philosophisch-Naturwissenschaftliche Fakultät, studiendekanat-philnat@unibas.ch |
Anbietende Organisationseinheit | Departement Physik |